在光學(xué)元件制造(如透鏡、棱鏡、濾光片、AR/VR鏡片等)過(guò)程中,表面質(zhì)量直接影響產(chǎn)品性能。微米級(jí)的劃痕、氣泡或鍍膜缺陷可能導(dǎo)致光路偏移、散射增加或成像失真。因此,高精度表面缺陷檢測(cè)成為質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié),而選擇合適的檢測(cè)光源則是確保檢測(cè)準(zhǔn)確性的核心因素。
傳統(tǒng)檢測(cè)方式(如普通LED或熒光燈)常面臨以下問(wèn)題:
? 照度不足:難以發(fā)現(xiàn)微小缺陷
? 熱影響大:導(dǎo)致光學(xué)鍍膜或膠合層受損
? 均勻性差:邊緣與中心亮度不一致,造成誤判
針對(duì)這些挑戰(zhàn),日本Yamada推出的YP-150I & YP-250I高強(qiáng)度鹵素?zé)籼峁┝藢I(yè)級(jí)解決方案。
光學(xué)元件的表面缺陷(如納米級(jí)劃痕、微塵)需要超高照度才能清晰顯現(xiàn)。
Yamada鹵素?zé)籼峁?00,000Lx以上照度,遠(yuǎn)超普通光源,可識(shí)別傳統(tǒng)方法難以檢測(cè)的缺陷。
光學(xué)鍍膜、膠合透鏡等對(duì)溫度敏感,傳統(tǒng)鹵素?zé)粢滓蚋邷貙?dǎo)致樣品變形或脫膠。
冷鏡技術(shù)將熱輻射降低50%~67%,確保檢測(cè)過(guò)程不影響樣品特性。
色溫3400K,光線均勻銳利,避免因照明不均導(dǎo)致的誤檢(如邊緣暗區(qū)漏檢)。
兩段式調(diào)光(高/低亮度)適應(yīng)不同檢測(cè)需求:
高亮度模式:快速發(fā)現(xiàn)缺陷
低亮度模式:長(zhǎng)時(shí)間觀察不傷眼
光學(xué)元件類型 | 推薦型號(hào) | 核心優(yōu)勢(shì) |
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小型透鏡/棱鏡(φ<30mm) | YP-150I | 30mm小光斑+140mm近場(chǎng)照射,精準(zhǔn)定位缺陷 |
大尺寸濾光片/鏡片(φ≤60mm) | YP-250I | 60mm寬照射+220mm遠(yuǎn)距離,提升檢測(cè)效率 |
鍍膜元件(如AR/IR鏡片) | YP-150I | 自然冷卻+低熱影響,保護(hù)敏感鍍膜層 |
高反射材料(如金屬鏡) | YP-250I | 350W高功率+強(qiáng)制散熱,應(yīng)對(duì)強(qiáng)反光挑戰(zhàn) |
案例1:某光學(xué)鏡頭廠商
問(wèn)題:鍍膜鏡片在質(zhì)檢中頻繁出現(xiàn)假性劃痕誤報(bào)。
解決方案:采用YP-150I的均勻光源+冷鏡技術(shù),誤判率降低70%。
案例2:VR透鏡生產(chǎn)商
問(wèn)題:傳統(tǒng)LED無(wú)法檢測(cè)納米級(jí)注塑瑕疵。
解決方案:YP-250I的400,000Lx照度+60mm照射范圍,缺陷檢出率提升至99.5%。
考量因素 | YP-150I | YP-250I |
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檢測(cè)精度 | ★★★★★(30mm精準(zhǔn)定位) | ★★★★☆(60mm高效覆蓋) |
熱敏感度 | ★★★★★(自然冷卻) | ★★★☆☆(強(qiáng)制排氣) |
大尺寸適配性 | ★★☆☆☆(適合φ≤30mm) | ★★★★★(適合φ≤60mm) |
長(zhǎng)期成本 | ★★★★★(50小時(shí)壽命) | ★★★☆☆(35小時(shí)壽命) |
選型建議:
若檢測(cè)微型光學(xué)元件或熱敏感材料,優(yōu)先選擇YP-150I。
若需快速掃描大尺寸鏡片或檢測(cè)高反射表面,推薦YP-250I。
在光學(xué)元件制造領(lǐng)域,表面缺陷檢測(cè)的精度直接決定產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。Yamada YP-150I & YP-250I高強(qiáng)度鹵素?zé)敉ㄟ^(guò):
? 400,000Lx超高照度——發(fā)現(xiàn)更微小缺陷
? 冷鏡技術(shù)——保護(hù)敏感光學(xué)材料
? 靈活光斑配置——適配不同尺寸元件
為光學(xué)制造企業(yè)提供高可靠性、低熱影響、長(zhǎng)壽命的專業(yè)檢測(cè)解決方案。